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聚芯pcb抄板设计直读式硅钢片铁损测试仪

聚芯专业提供PCB抄板与设计,IC解密,样机调试与制作,功能参数修改等服务,数十年的从业已经成功破解了成千上万的产品,直读式硅钢片铁损测试仪就是其中之一。

聚芯pcb抄板设计直读式硅钢片铁损测试仪
直读式硅钢片铁损测试仪特点:

测试范围:0.10~19.99 W/kg;
·磁通密度:按国际测试标准1.5T (无取向Non Oriented);1.7T (取向Oriented Grain)两档切换;
·试样厚度:0.10~0.99mm;
·试样长度:20mm以上;
·试样宽度:最小2mm (5mm以上保证设计精度,形状不规则(非长方形)的复杂冲压片,可任意设定相近的有效宽度);
·测试精度:≤±5% (JIS Epstein方圈法比较);
·测试频率:50Hz;
·使用电源:AC110/220V (50Hz)。
·环境条件: ① 保证精度范围  15 ~ 35℃
                          ② 使用温度范围  0 ~ 40 ℃
                          ③ 允许湿度范围  35 ~ 85% (无露水)
·主 机 (DAC-IR-2C)尺寸:W(190) × H(105) × D(295) mm
·重 量:主机 约4 Kg

聚芯已通过反向工程掌握该产品的技术资料,并可提供该产品的的PCB设计、PCB抄板、芯片解密、样机制 产品的功能升级和扩展,为广大客户提供定制化服务,我们期待与广大客户真诚合作,详情请咨询聚芯聚芯计算机系统工程有限公司。

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